激光粒度測試儀是一種性能優良的粒度分布儀，它采用進口的半導體激光器，功率大、壽命長、單色性好；采用專門設計的由大規模集成電路工藝制造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列；采用蠕動循環泵和微量樣品池兩種進樣方式；采用全程米氏理論和多種分布模型的數據處理方式；采用高精度的數據傳輸與處理電路等一系列先進的技術和制造工藝，使該儀器具有準確可靠、測試速度快、重復性好、操作簡便等突出特點，是集激光技術、計算機技術、光電子技術于一體的新一代粒度測試儀器。
激光粒度測試儀的測量原理：
當光束前進過程中遇到顆粒時，將發生散射現象，散射光與光束初始傳播方向形成一個夾角θ，散射角的大小與顆粒的粒徑相關，顆粒越大，產生的散射光的θ角就越小;顆粒越小，產生的散射光的θ角就越大。這樣，測量不同角度上的散射光的強度，就可以得到樣品的粒度分布了。
隨著粉體技術的發展，對粒度分析儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來越寬。測量下限要求達到幾百甚至幾十個納米，測量上限要求達到一千甚至幾千微米。這對新型激光粒度測試儀設計者提出了極大的挑戰。
顆粒越細，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內都有分布。為了拓展儀器的測量下限。需要有非常規的光學設計。顆粒越小，分布在360度空間范圍的散射光光強差越小，當顆粒小到一定極限，光強差將小得幾乎難以被分辨出來。這時就到了激光粒度測試儀的測量下限了。光學設計上的障礙和散射光本身的特性決定了常規激光粒度測試儀的測量下限一般在0.02微米左右。當顆粒較大時，同樣也會遇到技術困難。大顆粒的散射角度很小，不容易分辨和測量。要想有效分辨大顆粒的光強分布。可以簡單的拉長聚焦鏡頭的焦距(例如500甚至1000毫米以上)，但是焦距大將導致激光粒度測試儀的體積大幅增加，且非常不便于小顆粒的大角度散射光探測。同時對鏡頭的加工精度要求也會更高。這個技術難點使得常規設計的激光粒度測試儀的真實測量上限很難超過1200微米。
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